Được đánh dấu bởi một cấu trúc nhất quán, dễ theo dõi và hàng ngàn hình minh họa hỗ trợ, Siêu âm Chẩn đoán Nhi khoa là tài liệu tham khảo đầy đủ để thực hành hàng ngày. Nó cho thấy rõ tại sao siêu âm là phương thức chẩn đoán hình ảnh nhi khoa được sự lựa chọn đầu tiên, mang lại kết quả chất lượng cao, an toàn, không xâm lấn, dẫn đến chẩn đoán chính xác. Cung cấp một loạt các hình ảnh tham chiếu bình thường để so sánh với các kết quả bệnh lý, cuốn sách rất cần thiết cho bất kỳ bác sĩ lâm sàng nào sử dụng siêu âm trong chăm sóc nhi khoa.

Các tính năng đặc biệt:

Cấu trúc chương mô phạm có tổ chức bao gồm giới thiệu ngắn gọn, chỉ định siêu âm, kỹ thuật kiểm tra, giải phẫu bình thường và các biến thể, bảng đo lường của các cơ quan đang phát triển và mô tả các kết quả bệnh lý cho mọi vùng giải phẫu và hệ cơ quan
Gần 1700 hình ảnh chất lượng cao mô tả tất cả các điều kiện một cách chi tiết tinh tế
Lời khuyên độc đáo mang lại những hiểu biết thực tế có được thông qua kinh nghiệm lâm sàng thực tế của các tác giả với bệnh nhân nhi
Hàng trăm tài liệu tham khảo mới nhất để đọc thêm
Video clip hướng dẫn siêu âm có sẵn trên Thieme Media Center

Hoàn thành với lời khuyên để tạo ra một môi trường thân thiện với trẻ em, kiểm tra trẻ sơ sinh và trẻ nhỏ, giao tiếp với cha mẹ và chẩn đoán các trường hợp phức tạp, Siêu âm Chẩn đoán Nhi khoa đóng góp lớn cho lĩnh vực này. Nó sẽ tăng kiến ​​thức và kỹ năng của tất cả các bác sĩ X quang nhi khoa và nói chung, nội trú X quang, bác sĩ nhi khoa và các chuyên gia khác sử dụng siêu âm để chăm sóc cho quần thể nhạy cảm này.

THÔNG TIN_
Diagnostic Pediatric Ultrasound 1st Edition
by Erik J.A. Beek (Author), Rick R. Van Rijn (Author, Editor), Erik J. A. Beek (Editor)
Hardcover: 660 pages
Publisher: Thieme; 1 edition (August 19, 2015)
Language: English
ISBN-10: 3131697318
ISBN-13: 978-3131697318
Product Dimensions: 9 x 1.5 x 11.5 inches
Shipping Weight: 5.1 pounds

TẢI SÁCH: Định dạng PDF – 660 trang – Kích thước 70 MB – Tiếng Anh

THƯ VIỆN MEDIPHARM

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *